PUZHE蒲柘 55C-FG 金屬覆蓋層測量顯微鏡
金屬覆蓋層測量55C-FG采用了光學(xué)顯微鏡與現(xiàn)代攝像成像融為一體的圖像測量技術(shù),通過檢測橫截面,以測量金屬覆蓋層、氧化膜層和釉瓷或玻璃搪瓷覆蓋層的局部厚度。同時(shí)完全符合GB T 12334-2001金屬和其他非有機(jī)覆蓋層關(guān)于厚度測量的定義和一般規(guī)則標(biāo)準(zhǔn)及對應(yīng)IS0 2064:1996標(biāo)準(zhǔn),GB T 6462-2005金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法及對應(yīng)IS0 1463:2003。
產(chǎn)品特點(diǎn):
1、采用光學(xué)顯微鏡與現(xiàn)代成像測量融為一體的圖像測量技術(shù)
2、攝像系統(tǒng)配置了CCD數(shù)字?jǐn)z像頭,圖像更清晰
3、實(shí)現(xiàn)了一鍵測量、一鍵保存。完全取代手工測量繁瑣過程
序號 |
名稱 |
技術(shù)參數(shù) |
01 |
三目金相顯微鏡XJ-55C |
50X-1000X |
02 |
數(shù)字?jǐn)z像頭PZ-500MG |
500萬像素測量功能 |
03 |
電腦(選購) |
內(nèi)存4G或以上 |
04 |
精密切割機(jī)(選購) |
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05 |
鑲嵌機(jī)(選購) |
Φ25mm φ30mm 二選一 |
06 |
磨拋機(jī)(選購) |
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07 |
真空鑲嵌機(jī)(選購 適合薄片陶瓷玻璃) |
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08 |
鑲嵌粉砂紙 切割片 拋光布(選購) |
買家須知
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