JGK-482數(shù)字電位差綜合測試儀 JGK采用國內(nèi)技術(shù)與高精高穩(wěn)元器件精心設(shè)計、生產(chǎn),能在較寬的溫區(qū)內(nèi)保證精度和穩(wěn)定性,其性能價格比遠優(yōu)于國內(nèi)外同類產(chǎn)品,是一種理想的實驗設(shè)備。 SDC-Ⅲ是新一代高新技術(shù)設(shè)計制造,可完全替代UJ25、UJ23、UJ21等傳統(tǒng)產(chǎn)品和與之配套的電源,光電檢流計、變阻箱等配套設(shè)備,儀器除實現(xiàn)了數(shù)字電位顯示和數(shù)字檢零外,仍保留原電位差計的“補償法對比測定”方式,儀器內(nèi)帶基準電位,為無標準電池場合檢測提供了方便。
產(chǎn)品特點: * 一體設(shè)計:將UJ系列電位差計、光電檢流計、標準電池及其他電源綜合為一體。 * 數(shù)字顯示:電位差值六位顯示,數(shù)值直觀、準確。 * 內(nèi)外基準:即可使用內(nèi)部基準,又可采用外標準電池對比檢測,校驗方便靈活。 * 保留電位差計測量結(jié)構(gòu),真實體現(xiàn)電位差計對比檢測誤差微小之優(yōu)勢。 技術(shù)指標 型 號 技術(shù)指標 JGK SDC-Ⅲ 測量范圍 0~±5V 0~±5V 分 辨 率 10uV 1uV 內(nèi) 存 1V基準 1V基準 有效顯示位數(shù) 6位 7位
JGK-482數(shù)字電位差綜合測試儀
JGK采用國內(nèi)技術(shù)與高精高穩(wěn)元器件精心設(shè)計、生產(chǎn),能在較寬的溫區(qū)內(nèi)保證精度和穩(wěn)定性,其性能價格比遠優(yōu)于國內(nèi)外同類產(chǎn)品,是一種理想的實驗設(shè)備。
SDC-Ⅲ是新一代高新技術(shù)設(shè)計制造,可完全替代UJ25、UJ23、UJ21等傳統(tǒng)產(chǎn)品和與之配套的電源,光電檢流計、變阻箱等配套設(shè)備,儀器除實現(xiàn)了數(shù)字電位顯示和數(shù)字檢零外,仍保留原電位差計的“補償法對比測定”方式,儀器內(nèi)帶基準電位,為無標準電池場合檢測提供了方便。
產(chǎn)品特點:
* 一體設(shè)計:將UJ系列電位差計、光電檢流計、標準電池及其他電源綜合為一體。
* 數(shù)字顯示:電位差值六位顯示,數(shù)值直觀、準確。
* 內(nèi)外基準:即可使用內(nèi)部基準,又可采用外標準電池對比檢測,校驗方便靈活。
* 保留電位差計測量結(jié)構(gòu),真實體現(xiàn)電位差計對比檢測誤差微小之優(yōu)勢。
技術(shù)指標
型 號
技術(shù)指標
JGK
SDC-Ⅲ
測量范圍
0~±5V
0~±5V
分 辨 率
10uV
1uV
內(nèi) 存
1V基準
1V基準
有效顯示位數(shù)
6位
7位