超聲相控陣無(wú)損檢測(cè)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)格式有哪些

　　超聲相控陣檢測(cè)數(shù)據(jù)需兼顧 “信號(hào)完整性” 與 “后續(xù)分析兼容性”，常見(jiàn)存儲(chǔ)格式分為三類(lèi)，各有適用場(chǎng)景：

　　*類(lèi)是設(shè)備廠商格式，由各研發(fā)，需配套軟件解析，特點(diǎn)是能完整保留原始檢測(cè)信息。例如奧林巴斯的 “.raw” 格式，可存儲(chǔ)每道掃描的原始 A 掃信號(hào)、B 掃 / C 掃成像數(shù)據(jù)及探頭參數(shù)（陣元數(shù)量、頻率）、檢測(cè)參數(shù)（增益、聚焦深度）；GE 的 “.utd” 格式則額外記錄工件坐標(biāo)系與缺陷定位數(shù)據(jù)。這類(lèi)格式的優(yōu)勢(shì)是數(shù)據(jù)無(wú)損失，適合設(shè)備原廠軟件進(jìn)行深度分析（如缺陷定量、動(dòng)態(tài)波束回放），但兼容性差，無(wú)法直接用第三方軟件打開(kāi)，需通過(guò)廠商提供的 “格式轉(zhuǎn)換工具” 導(dǎo)出。

　　第二類(lèi)是行業(yè)通用標(biāo)準(zhǔn)格式，遵循國(guó)際或國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，支持多平臺(tái)兼容，核心代表為 “PCD（Phased Array Data）格式” 與 “ASME V 標(biāo)準(zhǔn)格式”。PCD 格式由國(guó)際無(wú)損檢測(cè)委員會(huì)（ICNDT）制定，可統(tǒng)一存儲(chǔ)相控陣的 A 掃、B 掃、C 掃、D 掃數(shù)據(jù)，包含檢測(cè)對(duì)象信息、設(shè)備參數(shù)與信號(hào)特征，主流第三方分析軟件（如 CIVA、UTInspect）均支持讀取，適合跨廠商數(shù)據(jù)共享與行業(yè)級(jí)檢測(cè)報(bào)告生成。ASME V 格式則針對(duì)承壓設(shè)備檢測(cè)，在 PCD 基礎(chǔ)上增加了缺陷評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)（如缺陷長(zhǎng)度、深度計(jì)算依據(jù)），滿(mǎn)足石油、化工等行業(yè)的合規(guī)性要求。

　　第三類(lèi)是通用圖像與數(shù)據(jù)格式，適合快速預(yù)覽與基礎(chǔ)分析，常見(jiàn)的有 “.bmp/.png”（圖像格式）與 “*.csv”（數(shù)據(jù)表格格式）。前者可存儲(chǔ) B 掃 / C 掃成像圖，便于直觀查看缺陷位置與形狀，但丟失原始 A 掃信號(hào)，無(wú)法進(jìn)行二次定量分析；后者可導(dǎo)出缺陷坐標(biāo)、信號(hào)幅值等關(guān)鍵數(shù)據(jù)，適合 Excel 等工具進(jìn)行簡(jiǎn)單統(tǒng)計(jì)，但缺乏成像信息。這類(lèi)格式通常作為 “輔助輸出”，配合或通用標(biāo)準(zhǔn)格式使用，滿(mǎn)足不同場(chǎng)景下的數(shù)據(jù)查看需求。

　　實(shí)際檢測(cè)中，需根據(jù) “數(shù)據(jù)用途” 選擇存儲(chǔ)格式：現(xiàn)場(chǎng)快速排查可存儲(chǔ)圖像格式；設(shè)備內(nèi)分析用格式；跨單位協(xié)作或合規(guī)性報(bào)告則需使用 PCD 或 ASME V 等標(biāo)準(zhǔn)格式，確保數(shù)據(jù)的完整性與兼容性。

       https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/ndt-tutorials/intro/ut/

山東省濱州食品廠GMP凈化車(chē)間檢...

山東省濰坊食品廠車(chē)間GMP環(huán)境檢...