>一臺(tái)無(wú)需氬氣和氦氣消耗的高性能合金元素分析光譜儀XRF Analyzer

>媲美直讀光譜儀的檢測(cè)性能，完全的無(wú)損分析（無(wú)需破壞樣品）

>真空測(cè)試環(huán)境提供*輕元素檢測(cè)效果（Na,Mg,Al,Si,P）

>高分辨SDD檢測(cè)器一次測(cè)試可覆蓋多達(dá)40種元素

>無(wú)需每天重復(fù)，快速分析，簡(jiǎn)單易用

>多組合濾光片系統(tǒng)，有效提高微量元素檢出限

>堅(jiān)固耐用，適用于于各種復(fù)雜而嚴(yán)苛的現(xiàn)場(chǎng)工作環(huán)境

>極高的

產(chǎn)品特點(diǎn)

作為一款*為合金元素分析而設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的光譜儀，EDX-9000A兼顧了耐用性，易于操作和高。其顯著優(yōu)勢(shì)主要有

?更快---全程無(wú)損分析，一到三分鐘即可出結(jié)果（可實(shí)時(shí)刷新測(cè)試結(jié)果）

?更準(zhǔn)---強(qiáng)大的基于Windows的FP（基本參數(shù)算法）軟件降低了基體元素間吸收增強(qiáng)效應(yīng)，并同時(shí)考慮到不同基體對(duì)光譜強(qiáng)度變化的干擾，把測(cè)試準(zhǔn)確度提高到了新的水平

?更穩(wěn)---使用*的硅漂移檢測(cè)器SDD可得到更好的測(cè)試穩(wěn)定性和長(zhǎng)期重復(fù)性，該款檢測(cè)器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得更高的光譜強(qiáng)度（計(jì)數(shù)率CPS）。的多道分析器DPP可實(shí)現(xiàn)過(guò)100,000 cps的線性計(jì)數(shù)速率而同時(shí)保證*的光譜分辨率，通常優(yōu)于130 eV，以更好地分離不同元素的光譜。與傳統(tǒng)的EDXRF臺(tái)式儀器相比，EDX9000A光譜儀可以全功率運(yùn)行，因此實(shí)現(xiàn)了更*的測(cè)試表現(xiàn)

?無(wú)需消耗昂貴的氬氣或者氦氣，極大的降低了儀器的使用和維護(hù)成本

?無(wú)需或者很少的樣品制備，通常簡(jiǎn)單的拋光樣品表面后即可上機(jī)測(cè)試

?不需要每天儀器，開(kāi)機(jī)即可檢測(cè)，大大提高生產(chǎn)效率，并降低了對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的依賴

?多重儀器硬件保護(hù)系統(tǒng)，并可通過(guò)軟件進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全

?特別設(shè)計(jì)的光路和真空系統(tǒng)提高了輕元素的測(cè)試靈敏度3-5倍(Na, Mg, Al, Si, P)

?友好的用戶界面，可定制的分析報(bào)告，可一鍵打印測(cè)試報(bào)告，包括分析結(jié)果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像

?八種光路準(zhǔn)直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品大小自動(dòng)切換，亦可測(cè)試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差

?高清內(nèi)置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測(cè)的樣品部位

>儀器參數(shù)

儀器配置