EDX9000B Plus能量色散X熒光光譜儀-礦產(chǎn)/礦石分析*ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應(yīng)用于采礦作業(yè)（勘探、開采、品位控制），工業(yè)礦物， 生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學(xué)學(xué)術(shù)研究，考古等。EDX9000B plus優(yōu)異的線性動態(tài)范圍，可實(shí)現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進(jìn)行高精度的過程控制和質(zhì)量控制。 具有全新真空光路系統(tǒng)和高分辨率技術(shù)的新一代Fast SDD檢測器，對輕、中、重元素和常見氧化物（Na2O、MgO、Al2O?、SiO?、P2O5、SO?、K2O、CaO、TiO?、Cr2O?、MnO、Fe2O?、ZnO和SrO等）都可達(dá)到*分析效果。EDX9000B plus*的分析性能，使其可以輕松完成對以下礦種的測試：鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等) 銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等) 鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等) 鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等) 鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等) 鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等) 鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等) 鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等) 鋁土礦 其它礦類產(chǎn)品特點(diǎn)1.小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高靈敏度、高精度分析 2.可同時(shí)分析40種元素 3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù) 4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供*的短期重復(fù)性和長期再現(xiàn)性以及*的元素峰分辨率 5.高記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計(jì)，雙真空抽速機(jī)構(gòu)，真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng) 6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件，多任務(wù)，多窗口操作 7.薄膜濾光片技術(shù)，有效提高輕元素檢出限>儀器參數(shù)

>儀器配置

全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。 *光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 *對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質(zhì)效應(yīng)，增強(qiáng)和吸收。 *譜顯示：峰定性，KLM標(biāo)記，譜重疊比較，可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖 *可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。 *可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的*小二乘擬合進(jìn)行定量分析。 *基本參數(shù)分析可以基于單個(gè)多元素標(biāo)準(zhǔn)，多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。鋁土礦樣品10次連續(xù)測試穩(wěn)定性報(bào)告