>一臺無需氬氣和氦氣消耗的高性能合金元素分析光譜儀XRF Analyzer
>媲美直讀光譜儀的檢測性能,完全的無損分析(無需破壞樣品)
>真空測試環(huán)境提供*輕元素檢測效果(Na,Mg,Al,Si,P)
>高分辨SDD檢測器一次測試可覆蓋多達40種元素
>無需每天重復,快速分析,簡單易用
>多組合濾光片系統(tǒng),有效提高微量元素檢出限
>堅固耐用,適用于于各種復雜而嚴苛的現(xiàn)場工作環(huán)境
>極高的
產(chǎn)品特點
作為一款*為合金元素分析而設(shè)計和生產(chǎn)的光譜儀,EDX-9000A兼顧了耐用性,易于操作和高。其顯著優(yōu)勢主要有
?更快---全程無損分析,一到三分鐘即可出結(jié)果(可實時刷新測試結(jié)果)
?更準---強大的基于Windows的FP(基本參數(shù)算法)軟件降低了基體元素間吸收增強效應(yīng),并同時考慮到不同基體對光譜強度變化的干擾,把測試準確度提高到了新的水平
?更穩(wěn)---使用*的硅漂移檢測器SDD可得到更好的測試穩(wěn)定性和長期重復性,該款檢測器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得更高的光譜強度(計數(shù)率CPS)。的多道分析器DPP可實現(xiàn)過100,000 cps的線性計數(shù)速率而同時保證*的光譜分辨率,通常優(yōu)于130 eV,以更好地分離不同元素的光譜。與傳統(tǒng)的EDXRF臺式儀器相比,EDX9000A光譜儀可以全功率運行,因此實現(xiàn)了更*的測試表現(xiàn)
?無需消耗昂貴的氬氣或者氦氣,極大的降低了儀器的使用和維護成本
?無需或者很少的樣品制備,通常簡單的拋光樣品表面后即可上機測試
?不需要每天儀器,開機即可檢測,大大提高生產(chǎn)效率,并降低了對標準樣品的依賴
?多重儀器硬件保護系統(tǒng),并可通過軟件進行全程實時監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全
?特別設(shè)計的光路和真空系統(tǒng)提高了輕元素的測試靈敏度3-5倍(Na, Mg, Al, Si, P)
?友好的用戶界面,可定制的分析報告,可一鍵打印測試報告,包括分析結(jié)果,樣品信息,光譜信息和樣品圖像
?八種光路準直系統(tǒng),根據(jù)不同樣品大小自動切換,亦可測試樣品不同位置再求平均值,降低樣品不均勻性造成的誤差
?高清內(nèi)置攝像頭,清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位
>儀器參數(shù)
儀器外觀尺寸: 560mm*380mm*410mm |
大樣品腔:460mm*310mm*95mm |
半封閉樣品腔(抽真空時):Φ150mm×高75mm |
儀器重量: 45Kg |
元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾 |
可分析含量范圍:1ppm- 99.99% |
探測器:AmpTek 高分辨率電制冷SDD硅漂移檢測器 |
多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器 |
X光管:50W高功率鈹窗光管 |
高壓發(fā)生裝置:電壓*輸出50kV,自帶電壓過載保護 |
電壓:220ACV 50/60HZ |
環(huán)境溫度:-10 °C 到35 °C |
儀器配置
>標準配置 | >可選配置 |
純Ag初始化標樣 | 交流凈化穩(wěn)壓電源 |
真空泵 | 合金標樣 |
樣品杯 | |
USB數(shù)據(jù)線 | |
電源線 | |
測試薄膜 | |
儀器出廠和報告 | |
保修卡 |
其他推薦產(chǎn)品
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作為一款高性能的臺式能量色散X射線熒光光譜儀,新款EDX9000A配置了*的基于Windows基本參數(shù)算法的FP(Fundamental parameter)軟件。FP軟件是合金分析的條件,FP算法能大幅降低合金樣品中各金屬元素間的吸收增強效應(yīng),從而來滿足客戶對于各類復雜合金樣品的元素分析需求。
EDX9000A結(jié)合了*的樣品激發(fā)和信號檢測技術(shù),使得它的分析性能可以與實驗室分析結(jié)果相媲美。通過配備不同濾光片和光路準直器,高功率X射線管,以及美國Amptek的SDD硅漂移檢測器,EDX9000A實現(xiàn)了*化的硬件組合。
選擇金屬合金分析儀時,客戶通常會重點關(guān)注測試準確性,分析速度和設(shè)備耐用性,而EDX9000A是對上述三點指標的*體現(xiàn)。同時,該光譜儀能同時對多種不同類型的合金進行快速定性定量分析,包括:
鎂合金 鋁合金 鈦合金 高合金鋼 中低合金鋼 工具鋼 貴金屬
鈷合金 鎳合金 銅合金 鋅合金 貴重合金 黃銅 青銅 焊錫 等